場發射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質量成像性能，采用了創新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進一步優化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。
 

　　場發射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術，不再需要用戶手動進行調整操作，而且，FLASH自動執行精細調節工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，掃描電鏡的工作距離不再意味著低分辨成像，系統還可升級實時元素譜/圖成像功能，*改變了幾十年來傳統SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升。任何用戶都可以輕松地得到的分析效果。
 

　　場發射掃描電鏡的性能特點：
 

　　1.全面解析：全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
 

　　2.靈活性：非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用重要的數據；
 

　　3.SmartAlign技術：使用SmartAlign技術(智能調整光學系統)，實現光學系統自動調整，減少維護時間；
 

　　4.先進的自動化：先進的自動化包括FLASH自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH技術；
 

　　5.實時定量EDS：元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術，提供實時元素面分布成像定量分析，結果獲取更加快速、簡便；
 

　　6.標準工作流操作：內置了用戶工作流功能，無論是初學者還是經驗豐富，都能夠快速上手，并穩定獲取實驗數據。